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Systèmes d’analyse de faisceaux laser à balayage de fentes – Utilisables avec des sources laser continues ou pulsées, les systèmes d’analyse à balayage de fentes permettent de caractériser avec précision (0,1 µm) des faisceaux de très petites tailles (à partir de 2 µm, contre 32 µm pour une caméra CCD/CMOS). De plus, ce sont des outils idéaux pour vos mesures de 190 à 2500 nm grâce à leur double détecteur Silicium et InGaAs. Ils allient compacité, simplicité d’utilisation et performance à moindre coût.